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DataRay CMOS光束質量分析儀
- 產品型號：
- 更新時間：2023-12-29
- 產品介紹：DataRay CMOS光束質量分析儀給連續激光與脈沖激光提供了較好的光束質量分析方案。集成式 CMOS 傳感器消除了慧差現象，可實現更高分辨率的輸出，更新速率可達 60+ Hz。傳感器的水平有效尺寸為 6.6 mm、11.3 mm 和 25 mm，可以測量較大的光束直徑。
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產品介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 應用領域 | 環保,化工,電子,綜合 |
|---|
DataRay CMOS光束質量分析儀
l 設計工作波長355 至1150nm
l 適用于至小光斑直徑 52µm 的光束
l 提供強大易用的免費軟件
l 可測量光束漂移、M2 以及發散角等
產品介紹
DataRay 光束質量分析儀給連續激光與脈沖激光提供了較好的光束質量分析方案。集成式 CMOS 傳感器消除了慧差現象，可實現更高分辨率的輸出，更新速率可達 60+ Hz。傳感器的水平有效尺寸為 6.6 mm、11.3 mm 和 25 mm，可以測量較大的光束直徑。DataRay光束質量分析儀所提供的有免費、耐用的軟件也是該產品的一個優勢，該軟件具有 M2 測量、光束漂移和記錄以及儀器校準等分析功能。這些光束質量分析儀由 USB3.0/2.0 供電，附贈一條 3 米長的柔性螺絲固定電纜。還附贈光密度為 1.0、2.0 和 4.0 的中性密度濾光鏡。
產品信息
標題 | 產品編碼 |
WinCamD-LCM Beam Profiler | 24-211 |
TaperCamD-LCM Beam Profiler | 24-212 |
BladeCam2-HR Beam Profiler | 24-213 |
BladeCam2-HR-TEL Beam Profiler | 29-186 |
